Semi Auto Probe Station

기능

본 설비는 LCD 제조 공정 내에 LCD Glass 위에 IC Chip을 Bonding 하기 전에 LCD Glass에 이상 유무를 점등점사 하는 설비입니다.

장비의 특징

① 구조가 간단하여 작업성 및 작업 공간의 효율성
② Model 변경 시 Probe Unit 및 LCD Stage의 교체만으로 가능
정확하고 빠른 검사시간(tact time) : 25sec(TFT 기준)
구동방식 : 실린더 UP&DOWN

검사 항목

① TFT, LTPS, OLED, LCD
② Panel 결함 여부

설비사양